以下因素會對鍍層測厚儀產(chǎn)生示值不準的影響

　　鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會對樣品造成損壞。同時，測量可以在10秒到幾分鐘內(nèi)完成。

　　鍍層測厚儀在測量時偶爾會示值不準，那么下面幾個問題對測量結(jié)果有影響作用，我們來看看如何應(yīng)對：

　　1、表面粗糙度和表面清潔度

　　在粗糙度表面上為獲得一個有代表性的平均測量值必須進行多次測量才行。顯而易見，不論是基體或是覆層，越粗糙，測量值越不可靠。本儀器為獲得可靠的數(shù)據(jù)，基體的平均粗糙度應(yīng)小于覆層厚度的5％。而對于表面雜質(zhì)，則應(yīng)予去除。有的儀表上下限，以剔除那些“飛點”。

　　2、覆層材料中的鐵磁成份和導(dǎo)電成份

　　覆層中存在某些鐵磁成分，如某種顏料時，會對測量值產(chǎn)生影響，在這種情況下，對用作校準的對比試樣覆層應(yīng)具有與被測物覆層相同的電磁特性，經(jīng)校準后使用。使用的方法可以是將同樣的覆層涂在鋁或銅板試樣上，用電渦流法測試后獲得對比標準。

　　3、探頭測量板的作用力

　　儀器探頭測量時的作用力應(yīng)是恒定的。并應(yīng)盡可能小。才不致使軟的覆層發(fā)生形變，以致測量值下降。活產(chǎn)生大的波動，必要時，可在兩者之間墊一層硬的，不導(dǎo)電的，具有一定厚度的硬性薄膜。這樣通過減去薄膜厚度就能適當(dāng)?shù)氐玫绞４拧?/div>